*Wissenschaftliches Programm*   *Liste der Vortragenden*

Sektion 19
Donnerstag, 21.09.2000, 15.30–15.45 Uhr, Ma-HS

Mikrostruktursimulation mit der Lattice-Boltzmann-Methode

Doris Reinel-Bitzer, ITWM Kaiserslautern

In dem Minisymposium werden Methoden zur Analyse dreidimensionaler Bilder von Mikrostrukturen vorgestellt, die durch moderne abbildende Verfahren wie hochauflösende Röntgentomographie oder konfokale Laserscanning-Mikroskopie erhalten werden. Die am ITWM entwickelten Methoden basieren im wesentlichen auf integralgeometrischen Ansätzen. Das zur Abbildung einer Mikrostruktur verwendete Gitter impliziert eine Diskretisierung der Integrale in den Croftonschen Schnittformeln bzw. von Hadwigers rekursiver Darstellung der Euler-Zahl.

M. Kiderlen stellt ein Verfahren zur nichtparametrischen Schätzung der Richtungsverteilung aus Daten vor, die an Schnitten von texturierten Mikrostrukturen gemessen werden.

Der Beitrag von J. Ohser befaßt sich mit der bildanalytischen Bestimmung von Quermaßen bzw. Quermaßdichten.

U. Sonntag gibt eine Übersicht über die Implementierung dieser Techniken sowie über praktische Anwendungen.

In ihrem Vortrag zeigt D. Reinel-Bitzer, wie aus den durch 3D Bildverarbeitung bestimmten geometrischen Kenngrößen unter Verwendung von Modellen der Stochastischen Geometrie auf makroskopische Materialeigenschaften geschlossen werden kann.